Технологические возможности:
профильный проектор
контроль точности контура на основе проецирования масштабированного изображения измеряемой детали (максимальная высота образца 100 мм) на матовое стекло. С помощью равным образом масштабированного чертежа можно выполнить непосредственное сопоставление области изображения детали с чертежом. Эту операцию можно расценивать как первоначальный вариант метода измерения «в изображении»;
контроль точности контура на основе проецирования масштабированного изображения измеряемой детали на матовое стекло и обеспечение перемещения осей на матовом стекле с установленной точностью (обеспечивается за счет перемещения детали на столе прецизионными винтовыми парами);
контрольно-измерительная машина (КИМ)
(диапазон измерений X × Y × Z, 700 × 700–1000 × 600 мм)
КИМ – это средство измерения, предназначенное для проведения координатных измерений в общем случае не менее чем по трем линейным и угловым координатам, причем хотя бы 1 из координат должна быть линейной;
работа КИМ основана на координатных измерениях, иными словами, на поочередном измерении координат определенного числа точек поверхности детали и последующих расчетов линейных и угловых размеров, отклонений формы и расположения поверхностей;
для выполнения координатных измерений КИМ оснащают комплексом аппаратных и программных средств.